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    計(jì)量學(xué)
    
                    
    
                        
    2024-12-03 13:41:40
    
                        
    虹漸光電
    
                        
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    用于細(xì)胞篩選的可靠而精準(zhǔn)的自動(dòng)化成像技術(shù)
    

    基于顯微鏡的計(jì)量依賴于高性能的移動(dòng)裝置和高質(zhì)量的光學(xué)儀器。部件的特征描述和測(cè)量對(duì)生產(chǎn)至關(guān)重要，根據(jù)顯微鏡的不同，可以通過多種方式進(jìn)行。
    

    基于對(duì)比度的信息可用于根據(jù)焦點(diǎn)確定形貌。閉環(huán)平臺(tái)運(yùn)動(dòng)有助于精準(zhǔn)確定物體的相對(duì)橫向位置。高端顯微鏡技術(shù)，如原子力顯微鏡，可以在高分辨率條件下應(yīng)用這些原理，甚至可以進(jìn)行皮米級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。
    

    誤差分析及合規(guī)性
    

    計(jì)量學(xué)可確定是否符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或設(shè)計(jì)規(guī)范。如果偏離其中之一，則可將樣品歸類為正確樣品，或提供發(fā)生錯(cuò)誤的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。計(jì)量顯微鏡可進(jìn)行各種測(cè)量，包括：
    

    表面分析：使用原子力顯微鏡或電子顯微鏡可以測(cè)量亞納米級(jí)的粗糙度和波紋度，使用共聚焦顯微鏡或白光干涉儀結(jié)合高性能顯微鏡自動(dòng)化系統(tǒng)可以測(cè)量低納米級(jí)的粗糙度和波紋度。
    

    3D 測(cè)量：使用傳統(tǒng)顯微鏡光學(xué)元件結(jié)合自動(dòng)化技術(shù)可以生成低微米分辨率物體的形貌輪廓，并通過 AFM、電子顯微鏡或其他方法獲得高分辨率。
    

    特征識(shí)別：在較低分辨率下，成像方法會(huì)對(duì)測(cè)量質(zhì)量產(chǎn)生很大影響。暗場(chǎng)照明或微分干涉對(duì)比 （DIC） 可用于識(shí)別使用標(biāo)準(zhǔn)明場(chǎng)顯微鏡不易識(shí)別的特定特征。
    

    來自顯微鏡專家的閉環(huán)自動(dòng)化
    

    我們?cè)谥圃祜@微鏡自動(dòng)化組件方面擁有 30 多年的經(jīng)驗(yàn)，從傳統(tǒng)的復(fù)合顯微鏡增強(qiáng)功能到市場(chǎng)領(lǐng)先的納米定位技術(shù)。 高質(zhì)量的線性編碼和廣泛的測(cè)試程序確保我們的 ProScan III 載物臺(tái)系統(tǒng)的性能符合亞微米分辨率顯微鏡所需的標(biāo)準(zhǔn)。 我們的 Queensgate 納米定位技術(shù)以電容式傳感器和低噪聲電子設(shè)備為基礎(chǔ)，可實(shí)現(xiàn)皮米級(jí)測(cè)量。我們的產(chǎn)品（如 NPS-XY-100A）已被證明是 AFM 等高端顯微鏡技術(shù)的補(bǔ)充。 
    

    主要特點(diǎn)
    

     高線性度：0.005% （NPS-XY-100A）
    

    高速：1.4 ms 步進(jìn)整定時(shí)間 （NPS-X-15A）
    

    閉環(huán)定位：±0.7 μm 全行程重復(fù)性 （FB203E） 
    
                    
    
                    
                
    
            
    
        
    
    
    
    
    
    

    

    
    
    
    
    產(chǎn)品中心
    

    

    
    
    
        
        
    
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